V250 / V250PXI sono concepiti per il collaudo e ricerca guasti su schede PCB complesse. Dispongono di diverse tecniche di test elettrico.
Si possono eseguire test funzionali tramite i connettori della scheda, diagnostica avanzata guidata quando si vuole riparare le schede che non passano il test in linea di collaudo, o quelle che ritornano dal campo guaste. Il V250 è applicabile su schede digitali e analogiche di ultima e passata generazione.
La connessione con la scheda sotto test può essere fatta tramite pinze per un test In-circuit, da connettore per un test funzionale oppure con un letto di chiodi per un test parametrico.
Con entrambi i sistemi si può applicare il metodo di acquisizione dei parameri funzionali e parametrici di una scheda campione e comparare i dati con una scheda sospetta. Una vasta libreria interna permette un test Funzionale In-Circuit facile e sicuro. La stessa libreria può essere ampliata dall’utente. Il test Qmax VI è particolarmente efficace in quanto dispone di una tecnica definita “Best fit Curve”, dove il software seleziona automaticamente i parametri di tensione, corrente e frequenza da applicare su ogni pin. Inoltre, ogni pin può essere misurato rispetto a tutti altri. Questo metodo di misura abbinato alla scelta automatica del range di misura “Best fit Curve”, rende il test Qmax VI più facile da applicare e aumenta la capacità di copertura. Il V250 integra moduli PXI.