QT9627 è un mini ATE moderno desktop con dimensioni ridotte.
Il sistema è la sintesi delle richieste ricevute da un gran numero di clienti dell’area R&D, Test e Riparazione.
Le specifiche software, hardware e le diverse metodologie di test integrate, consentono di utilizzare il sistema in linea di collaudo in un centro di riparazione e reverse enginnering.
Il QT9627 dispone di una libreria di oltre 34.000 che semplifica la diagnostica In-Circuit funzionale quando non si dispone di alcuna documentazione tecnica della scheda.
La collaudata piattaforma software TD6 della Qmax, offre il notevole vantaggio di mettere a disposizione tutte le applicazioni di test Funzionale, Parametrico, JTAG Boundary Scan e Reverse Engineering. Questo facilita il compito dei molti utilizzatori che devono riparare diverse tipologie di schede complesse e non dispongono di documentazione.

Il software TD6 permette di acquisire i parametri funzionali e QSM VI  di ogni singolo pin del componente o del connettore della scheda. Gli stessi parametri si possono utilizzare per una comparazione immediata con una scheda guasta.

Il test parametrico Qmax VI è particolarmente efficace in quanto dispone di un algoritmo definito “Best fit Curve”, dove il software seleziona automaticamente i parametri di tensione, corrente e frequenza da applicare su ogni pin del componente o del connettore. Il metodo “Best fit Curve”, rende il test Qmax VI veloce da applicare e migliora la qualità.

SCHEDA TECNICA

QT 9627

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Specifiche primarie :

    • Test In-Circuit funzionale e VI
    • Massimo numero di canali 64 Digitali, 64 VI Parametrici, 3 Analogici.
    • Diagnostica avanzata con guida automatica affidabile per riparare schede complesse con circuiti analogici, digitali e misti.
    • Integrato opzionale Boundary Scan Test per una diagnostica facile e veloce delle interconnessioni, Open/ / Shorts, su schede con un alto livello d’integrazione dove il contatto fisico dei pin è difficoltoso.
    • Funzioni di misure R, C, L, V e F durante il test della scheda.
    • Due canali oscilloscopio integrati.

 

  • Vasta Libreria di componenti analogici e digitali per il Test In-Circuit Funzionale.
  • Acquisizione In-Circuit Parametrico VI dei componenti analogici e digitali di una scheda campione e comparazione con una guasta.
  • “Best Fit Curve”, scelta automatica dei parametri di tensione, corrente e frequenza da applicare su ogni singolo pin.
  • Reverse Engineering.
  • Non necessita la documentazione tecnica della scheda da riparare.

 

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